JIS C5402-2-3-2005 电子设备连接器.试验和测量.第2-3部分:电连续性和接触电阻试验.试验2c:接触电阻偏差

作者:标准资料网 时间:2024-05-25 04:13:41   浏览:8890   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Connectorsforelectronicequipment--Testsandmeasurements--Part2-3:Electricalcontinuityandcontactresistancetests--Test2c:Contactresistancevariation
【原文标准名称】:电子设备连接器.试验和测量.第2-3部分:电连续性和接触电阻试验.试验2c:接触电阻偏差
【标准号】:JISC5402-2-3-2005
【标准状态】:现行
【国别】:日本
【发布日期】:2005-03-20
【实施或试行日期】:
【发布单位】:日本工业标准调查会(JP-JISC)
【起草单位】:TechnicalCommitteeonElectronics
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:この規格は,規定した動的条件下における電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の接触抵抗の変動を決定するための試験方法について規定する。
【中国标准分类号】:L23
【国际标准分类号】:31_220_10
【页数】:6P;A4
【正文语种】:日语


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Product Code:SAE AS5422
Title:Hose Assembly, Lined Silicone, Heated, Fixed Cavity, 125 Psi, Potable Water
Issuing Committee:G-3, Aerospace Couplings, Fittings, Hose, Tubing Assemblies
Scope:No scope available.【英文标准名称】:Semiconductordevices-Semiconductorsensors-Genericspecificationforsensors
【原文标准名称】:半导体器件.半导体传感器.传感器用一般规范
【标准号】:BSIEC60747-14-1-2010
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2010-04-30
【实施或试行日期】:2010-04-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:组件;连接;定义(术语);分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;总规范;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;半导体器件;半导体传感器;半导体;传感器;规范(验收);符号;试验
【英文主题词】:Components;Connections;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Genericspecification;Inspection;Integratedcircuits;Layout;Life(durability);Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Semiconductordevices;Semiconductorsensor;Semiconductors;Sensors;Specification(approval);Symbols;Testing
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:26P;A4
【正文语种】:英语