NF C96-022-23-2004 半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
作者:标准资料网
时间:2024-05-11 19:53:21
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part23:hightemperatureoperatinglife.
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
【标准号】:NFC96-022-23-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-07-01
【实施或试行日期】:2004-07-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P;A4
【正文语种】:其他
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.第23部分:高温操作寿命
【标准号】:NFC96-022-23-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-07-01
【实施或试行日期】:2004-07-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:11P;A4
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